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RasterElektronenMikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie (REM) Röntgenmikroanalyse (EDX)

Die Rasterelektronenmikroskopie ist die vielseitigste unter den mikroskopischen Untersuchungsmethoden. Ihre Vorteile sind:

  • weiter Vergrößerungsbereich (20-1 Millionfach)
  • große Tiefenschärfe
  • maximale Auflösung 1 nm

Ein Primärelektronenstrahl wird mit Hilfe einer Elektrodenkathode und Beschleunigung zur Anode hin, erzeugt und durch nachfolgende elektromagnetische Linsen auf die Oberfläche der zu untersuchenden Probe möglichst fein fokussiert. In der Probe werden in einem von der Beschleunigungsspannung und der Materialzusammensetzung abhängigem Wechselwirkungsvolumen Sekundärelektronen (SE), Rückstreuelektronen (BSE) und Röntgenstrahlung erzeugt. Die Energie der Röntgenstrahlung ist von der Ordnungszahl des emittierenden Atoms abhängig und damit für das betreffende Element „charakteristisch“. Alle diese Signale können mit entsprechenden Detektoren registriert werden. Entsprechenden Topographie-, Material- und/oder Elementkontraste können so abgebildet werden.

REM: Verfahren zur Abbildung von Oberflächen und Bruchflächen von Feststoffen, z.B. Membranen, Werkstoffen oder medizinischen und biologischen Präparaten

EDX: Verfahren zur ortsaufgelösten Elementanalyse von Feststoffen. Die energiedispersive Röntgenmikroanalyse ermöglicht die Ermittlung der Elementzusammensetzung auf einer mittels REM abgebildeten Oberfläche. Neben flächiger und Spotmessung können auch Elementmappings aufgenommen werden.

Quelle: Fraunhofer IGB

Elementanalyse zweier verschiedenen Partikeltypen von einem Raumluftfilter
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